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  • 专辑

    • 纳米分辨近场光学显微成象技术现状

    • The Present Situation of Near-Field Optical Microscopy with Nanometer Resolution

    • 2000年5卷第8期 页码:625   

      纸质出版:2000

    • DOI: 10.11834/jig.20000801     

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  • 吴世法, 简国树, 潘 石. 纳米分辨近场光学显微成象技术现状[J]. 中国图象图形学报, 2000,5(8):625. DOI: 10.11834/jig.20000801.
    The Present Situation of Near-Field Optical Microscopy with Nanometer Resolution[J]. Journal of Image and Graphics, 2000, 5(8): 625. DOI: 10.11834/jig.20000801.
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